Les propriétés structurales des pérovskites

Table des matières

Introduction générale
Chapitre I : Généralités
Partie A : Notions sur les matériaux ferroélectriques
A-1.Ferroélectricité
A-1-1.Historique de la ferroélectricité
A-1-2.Propriétés des cristaux ferroélectriques
A-2.Propriétés diélectriques
A-2-1.Permittivité diélectrique
A-2-2.Angle de perte diélectrique (tan
A-3.Paraélectricité
A-4.Type de polarisation
A-4-1.Polarisation spontanée
A-4-2.Polarisation totale
A-5.Cycle d’hystérésis
A-6.Point de curie
A-7.Classes ferroélectriques
Partie B : Généralités sur les pérovskites
B-1.Structure cristalline de pérovskite ABO3
B-2.Condition de stabilité structurale de la pérovskite
B-3. Généralités sur pérovskites étudiées « PZT-CCTO »
B-3-1.Titano-zirconate de plomb (PZT)
B-3-2.Dopage du système PZT
B-3-3. Titanate de calcium et de cuivre
Chapitre II : Techniques expérimentales d’élaborations et de caractérisations des matériaux
II-1. Introduction
II-2.Méthodes d’élaborations
II-2-1. Synthèse par voie solide
II-2-2 .Synthèse par voie chimique ou voie liquide
II-2-3. Synthèse par voie hydrothermale
II-2-4. Synthèse par procède Sol-gel
II-3. Mise en forme
II-4. Technique de caractérisation
II-4-1. Diffractomètre des rayons X
II-4-2.Microscope électronique à balayage
II-4-3. Analyse d’impédance
II-5. Conclusion
Chapitre III : Elaboration par voie hydrothermale et caractérisation des matériaux
PbTiO3 et BiFeO3
III-1. Introduction
III-2. Mise en fonctionnement des deux autoclaves
II-2-1. Autoclave manuel
II-2-2. Autoclave automatique
III-3. Elaboration de la céramique PT
III-3-1.Mode opératoire
III-3-2. Caractérisation structurale
III-3-2-1.Caractérisation par diffraction des rayons X
III-3-2-2.Caractérisation par Microscopie électronique à balayage MEB
III-3-3.Etude diélectrique
III-3-3-1. Evolution de la constante et des pertes diélectriques du PbTiO3 en fonction de la température
III-3-3-2. Evolution de la constante et les pertes diélectriques du PbTiO3 en fonction de la fréquence
III-4. Elaboration des poudres BFO
III-4-1. Structure cristallographique
III-4-2. Mode opératoire
III-4-3.Caractérisation par diffraction des rayons X
III-5.Conclusion
Chapitre IV : synthèse et caractérisation structurale et diélectrique des céramiques
« PZT » pures et dopées
Partie A : Etude de dopage de Bi sur les propriétés structurale et diélectrique de PZT
IV-A- 1.Introduction
IV-A-2.Elaboration et traitement thermique des poudres
IV-A-2-1. Mode opératoire
IV-A-2-2. Traitement thermique des poudres
IV-A-2-3. La mise en forme de céramique PBZT
IV-A-2-4. Frittage des pastilles
IV-A-3. Techniques de Caractérisation structurales et diélectriques
IV-A-3-1. Caractérisation par diffraction des rayons
IV-A-3-2.Caractérisation microstructurale
IV-A-3-4. Etude diélectrique
IV-A-2-4-1. Evolution de la constante diélectrique de Pb1-xBix(Zr0,84Ti0,52)1-x/4O3 en
fonction de la température
IV-A-2-3-1. Evolution de la constante diélectrique de Pb1-xBix(Zr0,84Ti0,52)1-x/4O3 en
fonction de la fréquence
Partie B : Etude de dopage de CaCu3Ti4O12 sur les propriétés structurale et diélectrique de PB10%ZT
IV-B-1. Introduction
IV-B-1. Mode opératoire
IV-B-2. Préparation de la pastille
IV-B-3. Caractérisation par diffraction des rayons X
IV-B-4.Caractérisation par MEB
IV-B-5. Evolution de la constante diélectrique en fonction de la température
Conclusion générale